Àüü
ÀüÀÚ/Àü±â
Åë½Å
ÄÄÇ»ÅÍ
·Î±×ÀÎ
ȸ¿ø°¡ÀÔ
About Us
ÀÌ¿ë¾È³»
¿¬±¸¹®Çå
±¹³» ³í¹®Áö
¿µ¹® ³í¹®Áö
±¹³» ÇÐȸÁö
Çмú´ëȸ ÇÁ·Î½Ãµù
±¹³» ÇÐÀ§ ³í¹®
³í¹®Á¤º¸
¹é¼
±³À°Á¤º¸
¿¬±¸ ù°ÉÀ½
ÇаúÁ¤º¸
°ÀÇÁ¤º¸
µ¿¿µ»óÁ¤º¸
E-Learning
¿Â¶óÀÎ Àú³Î
½ÉÈÁ¤º¸
¿¬±¸ ¹× ±â¼úµ¿Çâ
Áֿ俬±¸ÅäÇÈ
ÁÖ¿ä°úÁ¦ ¹× ±â°ü
Çؿܱâ°ü °ü·ÃÀÚ·á
¹ÙÀÌ¿À Á¤º¸±â¼ú
ÁÖ¿ä Archive Site
Æ÷Ä¿½ºiN
¿¬±¸ÀÚ Á¤º¸
¶óÀÌ¡½ºÅ¸
ÆÄ¿öiNÅͺä
¼¼ÁßÇÑ
¿¬±¸ÀÚ·á
¹®ÀÚ DB
¿ë¾î»çÀü
¾Ë¸²¸¶´ç
ºÎ½Ç ÇмúÈ°µ¿ ¿¹¹æ
³í¹®¸ðÁý
´ëȸ¾È³»
What's New
¿¬±¸ºñÁ¤º¸
±¸ÀÎÁ¤º¸
°øÁö»çÇ×
CSERIC ±¤Àå
Post-Conference
¿¬±¸ÀÚ Ä«Æä
ÀÚÀ¯°Ô½ÃÆÇ
Q&A
´Ý±â
»çÀÌÆ®¸Ê
¿¬±¸¹®Çå
±¹³» ³í¹®Áö
¿µ¹® ³í¹®Áö
±¹³» ÇÐȸÁö
Çмú´ëȸ ÇÁ·Î½Ãµù
±¹³» ÇÐÀ§ ³í¹®
³í¹®Á¤º¸
¹é¼
±³À°Á¤º¸
¿¬±¸ ù°ÉÀ½
ÇаúÁ¤º¸
°ÀÇÁ¤º¸
µ¿¿µ»óÁ¤º¸
E-Learning
¿Â¶óÀÎ Àú³Î
½ÉÈÁ¤º¸
¿¬±¸ ¹× ±â¼úµ¿Çâ
Áֿ俬±¸ÅäÇÈ
ÁÖ¿ä°úÁ¦ ¹× ±â°ü
Çؿܱâ°ü °ü·ÃÀÚ·á
¹ÙÀÌ¿À Á¤º¸±â¼ú
ÁÖ¿ä Archive Site
ÄÄÇ»ÅÍiN
¿¬±¸ÀÚ Á¤º¸
¿¬±¸ÀÚ·á
¹®ÀÚ DB
Ȧ·Î±×·¥ DB
¿ë¾î»çÀü
¾Ë¸²¸¶´ç
ºÎ½Ç ÇмúÈ°µ¿ ¿¹¹æ
³í¹®¸ðÁý
´ëȸ¾È³»
What's New
¿¬±¸ºñ Á¤º¸
±¸ÀÎÁ¤º¸
°øÁö»çÇ×
IT Daily
CSERIC ±¤Àå
Post-Conference
¿¬±¸ÀÚ Ä«Æä
ÀÚÀ¯°Ô½ÃÆÇ
Q&A
¼ºñ½º ¹Ù·Î°¡±â
¼³¹®Á¶»ç
¿¬±¸À±¸®
°ü·Ã±â°ü
Please wait....
¿¬±¸¹®Çå
±¹³» ³í¹®Áö
¿µ¹® ³í¹®Áö
±¹³» ÇÐȸÁö
Çмú´ëȸ ÇÁ·Î½Ãµù
±¹³» ÇÐÀ§ ³í¹®
³í¹®Á¤º¸
¹é¼
±¹³» ³í¹®Áö
Ȩ > ¿¬±¸¹®Çå > ±¹³» ³í¹®Áö >
Çѱ¹Á¤º¸Ã³¸®ÇÐȸ ³í¹®Áö
>
Á¤º¸Ã³¸®ÇÐȸ ³í¹®Áö ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î ¹× µ¥ÀÌÅÍ °øÇÐ
Á¤º¸Ã³¸®ÇÐȸ ³í¹®Áö ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î ¹× µ¥ÀÌÅÍ °øÇÐ
Current Result Document :
1
/ 10
´ÙÀ½°Ç
ÇѱÛÁ¦¸ñ(Korean Title)
GA-SVMÀ» ÀÌ¿ëÇÑ °áÇÔ °æÇâÀÌ ÀÖ´Â ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î ¸ðµâ ¿¹Ãø
¿µ¹®Á¦¸ñ(English Title)
Predicting Defect-Prone Software Module Using GA-SVM
ÀúÀÚ(Author)
Young-Ok Kim
Ki-Tae Kwon
±è¿µ¿Á
±Ç±âÅÂ
¿ø¹®¼ö·Ïó(Citation)
VOL 02 NO. 01 PP. 0001 ~ 0006 (2013. 01)
Çѱ۳»¿ë
(Korean Abstract)
¼ÒÇÁÆ®¿þ¾îÀÇ °áÇÔ °æÇâ ¸ðµâ ¿¹ÃøÀ» À§ÇØ SVM ºÐ·ù±â°¡ ¿ì¼öÇÑ ¼º´ÉÀ» º¸Àδٴ ¿¬±¸µéÀÌ ¸¹Áö¸¸, SVM¿¡¼ ÇÊ¿äÇÑ ÆĶó¹ÌÅÍ ¼±Á¤ ½Ã¸Å Ä¿³Î¸¶´Ù ´Ù¸£°Ô ¼±Á¤ÇØ¾ß ÇÏ°í, ÆĶó¹ÌÅÍÀÇ º¯°æ¿¡ µû¸¥ °á°ú¿¹ÃøÀ» À§ÇØ ¾Ë°í¸®ÁòÀ» ¹Ýº¹ÀûÀ¸·Î ¼öÇàÇØ¾ß ÇÏ´Â ºÒÆíÇÔÀÌ ÀÖ´Ù. µû¶ó¼ º» ³í¹®¿¡¼´Â SVMÀÇ ÆĶó¹ÌÅÍ ¼±Á¤ ½Ã À¯Àü¾Ë°í¸®ÁòÀ» ÀÌ¿ëÇÏ¿© ½º½º·Î ã°Ô ÇÏ´Â GA-SVM ¸ðµ¨À» ±¸ÇöÇÏ¿´´Ù. ±×¸®°í ºÐ·ù ¼º´É ºñ±³¸¦ À§ÇØ ½Å°æ¸ÁÀÇ ¿ªÀüÆÄ¾Ë°í¸®ÁòÀ» ÀÌ¿ëÇÏ¿© ºÐ·ùÇß´ø ±âÁ¸ ³í¹®°ú ºñ±³ ºÐ¼®ÇÑ °á°ú, GA-SVM ¸ðµ¨ÀÇ ¼º´ÉÀÌ ´õ ¿ì¼öÇÔÀ» È®ÀÎÇÏ¿´´Ù
¿µ¹®³»¿ë
(English Abstract)
For predicting defect-prone module in software, SVM classifier showed good performance in a previous research. But there are disadvantages that SVM parameter should be chosen differently for every kernel, and algorithm should be performed iteratively for predict results of changed parameter. Therefore, we find these parameters using Genetic Algorithm and compare with result of classification by Backpropagation Algorithm. As a result, the performance of GA-SVM model is better.
Å°¿öµå(Keyword)
Defect-Prone Module
SVM
GA
Classification
Prediction Model
Reliability
°áÇÔ°æÇâ¸ðµâ
¼Æ÷Æ®º¤Å͸ӽÅ
À¯Àü¾Ë°í¸®Áò
ºÐ·ù
¿¹Ãø¸ðµ¨
½Å·Úµµ
ÆÄÀÏ÷ºÎ
PDF ´Ù¿î·Îµå
¸ñ·Ï
Copyright(c)
Computer Science Engineering Research Information Center
. All rights reserved.